3Dイノベーション

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周波数シフト帰還型レーザを用いた計測システム

当社のコア技術「周波数シフト帰還型レーザを使用した光距離計測技術」を応用した、 新しい計測システムを提供します。

当社の技術は、高精度(1σで50μm以下)、かつ高速(1000点/秒)な距離計測を可能とします。
また、専門機関による校正により、非常に高いリニアリティを有するという評価を得ております。
こうした優れた性能を生かした、幅広い計測応用が考えられます。
【光遠隔三次元計測システム OCM−A】
当社の距離計測技術とスキャニング機構を組み合わせた、光遠隔三次元計測装置です。

 

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【光遠隔距離計測システム ODM−F】
スキャニング機構を省き、1軸の光距離計測に特化した装置です。

 

  「ODM-F」の製品紹介ページへ

 

 

各種計測用・分析用ツール

当社の経験から生まれた各種計測用・分析用ツールを提供します。
(準備中、随時UPしていきます。)
【超短パルスピークホールド回路モジュール】
【環境情報データロガー (気温、湿度を記録する小型データロガー)】

 

 

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